NI用于更快捷射频测量的新型技术
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资料格式:
pdf
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资料大小:
0.452MB
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授权方式:
免费
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简介:
在多核PXI处理器上运行的并行化测量算法比在传统仪器上运行的相似算法,在速度上有显著地提升,用户可以实现降低射频测试成本的需求。
更多内容请访问 NI-美国国家仪器有限公司
(http://c.gongkong.com/?cid=49325)
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