利用NI LabVIEW的并行化技术来提高测试的吞吐量
2008/8/1 14:00:56
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资料格式：
pdf
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资料大小：
0.294MB
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授权方式：
免费
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简介：
文章介绍如何通过将如多核处理器、现场可编程门阵列(FPGA)和高速数据总线与NI LabVIEW并行化编程软件及NI TestStand编程管理软件结合。工程师可以创建出高性能的测试系统，用于并行化处理、测量，甚至于在生产阶段进行完全并行化的测试。
更多内容请访问 NI-美国国家仪器有限公司
（http://c.gongkong.com/?cid=49325)
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