注：国家重点实验室基金资助项目(项目编号：9140C120704070C12) 

作者：孙正席   刘洋   代月松   董力科   陈昌鑫

单位：中北大学 电子测试技术国家重点实验室 山西太原 030051

中图分类号：TM930.12       

文献标识码：A        

文章编号：1006-883X(2011)07-0017-05

摘要：为了满足多种火炮和弹箭内弹道压力参数测试的需要，研制了高采样频率的微型化电子测压器。为了提高系统的采样频率，通过用两片单片机交叉采样的思路来实现，使采样频率提高了2倍，达到了125kHz。从器件选择上和多层电路板的制作上对测压器进行了微型化设计。同时，根据国军标及试验勤任务的要求，在进行膛压测试前可能需要对弹药在低温和高温两种状态下进行48h以上的保温，因此，在微型化设计上要兼顾低功耗，为测压器在常、高、低三种温度状态下的正常工作提供可靠保证。

关键词：高采样频率；微型化；低功耗；膛压测试 

High  sampling frequency design of micro electronic piezo- gauge

SUN Zheng-xi, LIU Yang,  DAI Yue-song,   DONG Li-ke,   CHEN Chang-xin

National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, North University of China, Taiyuan 030051, China

Abstract: In order to meet the requirements of ballistic pressure tests for a variety of guns and rockets, a miniature electronic piezo-gauge with high sampling frequency is designed in this paper. By using two microcontroller to take sampling alternately , the sampling frequency is increased to reach 125kHz which is two times faster than before. Miniaturization design is completed successfully in tow aspects of component selection and multilayer PCB production. Meanwhile, according to military specifications and test service requirements, the ammunition need keep  in low and high temperature for 48h before chamber pressure test, the low power consumption should be considered  in miniaturization design so as to ensure the electronic piezo-gauge working well in atmospheric, high and low temperature statuses.            

Keywords: high sampling frequency ; miniaturization; low-power; chamber pressure testing and measuring

www.sensorworld.com.cn/upFiles/file/pdf/2011/1006-883X(2011)07-0017-05.pdf