NI 下一代工业测控系统——更高精度更快控制研讨会
场次安排： 07/22 石家庄 |09/17 青岛|09/22 南通 起止时间： 2008-06-12 至 2009-09-22
简介：
当前，工业控制领域的竞争越发激烈，对于工业控制器的要求也越来越高。您可能需要把更高精度的测量和更高速度的控制集成到已有的系统中去。
本研讨会将为您带来高性能的测控解决方案。开放的软件平台不仅提供了多种高级算法加速开发流程，也可以方便地集成您已有的硬件产品降低系统升级成本。坚固可靠的硬件平台集成了当前最先进的FPGA技术，可以满足您对于高性能的测试和控制的需求。
此外，NI的工业平台中还可以轻松集成机器视觉与运动控制系统，满足您个性化的系统应用需求。
本次研讨会为以下工程师精心设计：
控制工程师，自动化工程师，机械工程师及工业控制领域系统开发人员
研讨会议程：
高精度测量
高性能分析
集成FPGA的高级控制平台
与现有平台方便的集成
涉及的产品/应用/演示包括：
LabVIEW，LabVIEW DSC，NI OPC Server
CompactRIO，NI机器视觉平台，NI运动控制平台，Touch Panel
CompactRIO Scan Mode演示
用户案例介绍：
钢铁冶金，轨道控制，汽车工业等行业对于高性能测量与控制的应用
网络资源：
ni.com/china/pac
ni.com/china/industrial
07/22 石家庄 14:00 - 17:00 具体地点以电话确认为准
9/17 青岛 14:00 - 17:00 具体地点以电话确认为准
9/22 南通 14:00 - 17:00 具体地点以电话确认为准
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