NI下一代自动化测试系统架构指南研讨会

简介：
本次研讨会将会探讨下一代自动化测试系统发展的趋势和需求，并提出以软件为中心的模块化的架构，以构建灵活可扩展的、可靠的测试系统，进一步提升系统的吞吐能力，降低系统的投资。内容将涉及系统管理软件、应用软件、驱动和服务以及强大的PXI／PXI Express平台和模块化的I/O，并通过实际的RF射频系统的案例加以贯穿和总结。

本次研讨会专为以下工程师量身定做/精心设计：
自动化测试测量工程师、研究人员和架构师

您将通过本次研讨会：
了解下一代自动化测试系统发展的趋势和需求
如何构建软件定义的模块化的测试系统
如何满足客户对测试系统高性能、可靠性、灵活性、可扩展性、低成本和长期使用性的要求

涉及的产品/应用/演示包括：
LabVIEW，LabWindows/CVI，TestStand，DIAdem
PXI／PXI Express平台的介绍以及各类模块化硬件

用户案例介绍：
Harris便携式RF测试系统

时间地点：
06/19 上海 14：00——17：00（13：45开始进场）
上海新锦江大酒店4楼兰花厅（上海卢湾区长乐路161号）

研讨会相关资源：
NI 常规测量指南
LabVIEW 专家组竞赛获奖例程

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