NI 3月基于计算机的测量与自动化技术免费研讨会
场次安排： 起止时间： 2003-01-24 至 2003-03-07
计算机技术迅速发展的今天，计算机已成为现代测试/测量和自动控制系统的基础。计算机与仪器之间的界线正在消失，这意味着您可以更快更好地测试产品，缩短产品开发进程，精减产品开发成本，加快产品上市时间，并且在整个企业内实现数据信息的共享。
早在八十年代，随着金牌产品NI LabVIEW的诞生，NI提出“软件就是仪器”的口号，开辟了“虚拟仪器”的崭新测量概念。您只需将来自National Instruments的各种软/硬件产品和计算机结合起来，即能装配成符合您专门需要的测控系统，在PC机上进行数据分析、记录和显示，并且可以根据您要求的变化和增加，可以进一步扩展和升级您的系统功能。基于计算机的测控系统因其灵活性、高性能、易于使用和低成本正渐渐兴起于测试测量和自动化控制领域。
在本次研讨会上，NI的工程师将向您介绍和演示先进的测试和自动化的软/硬件产品是如何与普通PC和工业计算机结合在一起，构建符合用户所需的数据采集系统，应用于测试/测量和工业自动化控制领域。诚邀感兴趣的工程师们参加此次研讨会！
讲座安排:
1. 基于计算机的测试测量和自动化系统即虚拟仪器介绍
2. 测控系统开发平台——LabVIEW、LabWindows/CVI、Measurement Studio
3. 系统开发硬件介绍：仪器控制（GPIB），数据采集（DAQ），信号调理（SCXI）、视觉图像/运动控制、FieldPoint分布式I/O模块；
4. PXI/CompactPCI模块化仪器系统
5. 插入式仪器：数字万用表，示波器卡等
6. 测试执行管理软件NI TestStand介绍
时间和地点：
2003/03/7 9：00-12：00 北京国家图书馆主楼5层502室文会堂（北京海淀区中关村南大街33号）
更多信息请访问ni.com/china
早在八十年代，随着金牌产品NI LabVIEW的诞生，NI提出“软件就是仪器”的口号，开辟了“虚拟仪器”的崭新测量概念。您只需将来自National Instruments的各种软/硬件产品和计算机结合起来，即能装配成符合您专门需要的测控系统，在PC机上进行数据分析、记录和显示，并且可以根据您要求的变化和增加，可以进一步扩展和升级您的系统功能。基于计算机的测控系统因其灵活性、高性能、易于使用和低成本正渐渐兴起于测试测量和自动化控制领域。
在本次研讨会上，NI的工程师将向您介绍和演示先进的测试和自动化的软/硬件产品是如何与普通PC和工业计算机结合在一起，构建符合用户所需的数据采集系统，应用于测试/测量和工业自动化控制领域。诚邀感兴趣的工程师们参加此次研讨会！
讲座安排:
1. 基于计算机的测试测量和自动化系统即虚拟仪器介绍
2. 测控系统开发平台——LabVIEW、LabWindows/CVI、Measurement Studio
3. 系统开发硬件介绍：仪器控制（GPIB），数据采集（DAQ），信号调理（SCXI）、视觉图像/运动控制、FieldPoint分布式I/O模块；
4. PXI/CompactPCI模块化仪器系统
5. 插入式仪器：数字万用表，示波器卡等
6. 测试执行管理软件NI TestStand介绍
时间和地点：
2003/03/7 9：00-12：00 北京国家图书馆主楼5层502室文会堂（北京海淀区中关村南大街33号）
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