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基于等强度梁的光纤光栅测试系统的性能分析

基于等强度梁的光纤光栅测试系统的性能分析

2011/7/9 19:53:00
应变测试是检测金属结构强度的有效手段.测量结构应变的方法目前主要以传统的应变片法为主.虽然半导体应变片传感器具有很多优点 ,然而因为必须要采用一定的粘接剂粘贴在试件上 ,且应变片本身、 衬底、 试件结构材料和粘接剂的热膨胀系数都不同,因此当温度变化时会产生一个相对应变 ,这个相对应变数值是测量的误差项
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