工控网首页
>

应用设计

>

半导体加工行业应用案例分享

半导体加工行业应用案例分享

2022/3/3 13:48:43

image.png

纵观半导体设备的发展历史,不难发现半导体设备紧随全球芯片制造中心而不断东移:从70-80年代的美国,到80-90年代的日本,再到90年代后期的中国台湾与韩国。

随着中国高端制造技术的不断发展,与本身庞大的市场需求相互帮衬,未来十年,中国有望成为半导体芯片制造的全球中心。

目前,在国家重大科技专项的支持下,集成电路主要工艺设备如PVD、PECVD、CMP、介质刻蚀机、CMP等技术均有显著提升。而IC晶圆生产线的设备国产化率也在不断提高。设备技术的提升也拉高了对光学传感器性能的需求。除了对精度、稳定性等性能要达到极高的标准外,传感器也被要求实现更多的检测任务。

作为有着超过75年历史的工业传感器领先生产厂商,SICK具有深厚的技术积累,丰富的产品种类,可以为半导体设备厂商提供更多样的产品、更优异的性能以及更专业的服务。

1、硅板厚度测量

产品系列:

image.png

OD5000位移测量传感器

订货号:6063621

客户应用:

image.png

太阳能硅片分选机,客户需求在皮带输送线上检测硅片的厚度,精度要求为2um

采用2*OD5000-C30T05上下组合方式,来测量硅片的厚度

客户利用上位机接受数据做算法处理,判定硅片的规格

客户受益:

双头侧厚,通过以太网接口和集成在传感器内部评价单元,无需额外控制器计算

高达80kHZ测量频率,准确测量微小变化

激光定位更加柔性,可视觉,产品定位精度更高

实时在线测量,相对于线激光方案,节省成本,精度更高

2、石英载具到位检测

产品系列:

image.png

WTF12G

订货号:1065719

客户应用:

image.png

石英载具装载硅片进行热处理、涂层等一系列工艺流程。

需要对半透明石英载具进行稳定到位检测,由于热处理中温度较高,无法安装反射板,只能选择漫反射。

检测距离较远,无法使用V镜头光电传感器。

客户受益:

WTF12G是漫反射前景抑制型原理,无需反射板,只需对背景进行示教即可

可以稳定地检测透明、半透明等物体

检测距离可达700mm

3、硅片检测

产品系列:

image.png

image.png

G2F,WTV4FE

WTV4FE订货号:1105444

GTB2F订货号:1093737

客户应用:

image.png

检测硅片的到位与有无,硅片表面光学性能特殊,普通漫反射光电很难稳定检测

安装空间十分有限,需要迷你型尺寸光电

无法安装镜反射与对射型光电

客户受益:

image.png

G2F扁平型外观设计,可以安装在狭小的空间中

独特的V型镜头设计,可稳定检测高反光、透明薄膜,深黑色吸光平面。

WTV4FE可进行旋按式示教,V镜头检测距离增加至50mm

产品系列:

image.png

WTT4SLC

订货号:1097190

应用需求要点:

image.png

检测距离400-500mm

检测边缘,客户需要光斑尽可能小

安装位置有限制,只能接受漫反射光电

客户受益:

WTT4SLC时间飞行原理,可稳定从倾斜角度或侧面检测带有弧度的物体,并且不受物体表面颜色和材质的影响

具有优异的背景抑制性能,可稳定屏蔽背景干扰

漫反射检测,最远可达到1.3m检测距离

光斑聚拢,4mm(1m),可以从侧面检测薄片边缘 

4、Roller(输送轮)

粗糙度区分:

产品系列:

image.png

Glare系列光泽度传感器

应用需求要点:

image.pngimage.png

现场面板传输设备运输基板一段时间后,基板与Roller摩擦导致Roller表面光滑,失去输送力。

不同摩擦情况不同导致基板受力不均匀,造成良率下降,稼动率降低,客户使用Glare光泽度传感器对Roller表面粗糙程度进行检测。

客户受益:

原本客户解决方法为工作人员定期停机检查,使用自制比对卡进行人眼对比观察。

使用Glare光泽传感器后客户受益如下:

降低检测误差

减少检查时间

节省人力资源

点击查看电子资料

image.png

image.png

image.pngimage.png

审核编辑(
王静
)
投诉建议

评论

查看更多评论
其他资讯

查看更多

无线射频识别应用手记 | 阿杰和费工的车辆管理篇

新品上市 | OD2000激光位移传感器

LMS4000+SOPAS | 简单快捷的3D扫描测试方案

路“检”不平,西克相助 | SICK 在公路交通的3D视觉应用

CLV一维条码阅读器 | IVD行业的信息追溯