工控网首页
>

应用设计

>

效率提升120倍!思谋ViMo落地面板行业云质检解决方案

效率提升120倍!思谋ViMo落地面板行业云质检解决方案

思谋近日为某全球半导体显示龙头企业提供了云质检解决方案,基于深度学习的底层技术,运用自研智能工业平台SMore ViMo,可实时处理客户产线超100种图像模糊异常,帮助客户及时掌控生产状态、调整生产计划,实现面板质检产线120倍效率提升。

1►项目痛点:图片模糊异常频发,人工目检效率低

在该项目中,客户已部署面板AOI(自动光学检测)产线,但由于质检前段制程面板成像模糊频发,导致AOI段无法正常运作,因此亟需对成像模糊异常进行全局把控。

客户面板成像模糊频发的原因有两点:

第一,客户产线面板类型繁多、物料更新迭代快。同时,由于客户质检产线的相机镜头与光源的适配稳定性下降,因此成像时图片经常失焦模糊,光图像模糊的种类就高达100多种。

第二,客户依靠人工目检排查异常,效率低,易产生损失。人工目检的响应速度滞后,往往需要2个小时,当异常被发现时,已经进入到检测站点的后段,检出效率低下可能导致数百万元损失。

2►解决方案:99.99%高精度检测,效率提升120倍

针对上述痛点,思谋提供了云质检解决方案,基于智能工业平台SMore ViMo搭载的高精度算法,自适应自匹配模糊图像特征,打破传统算法需要调整阈值的“繁琐”。SMore ViMo对客户产线各类面板的材质、尺寸、电路设计进行实时视觉检测,能快速检出客户现场全部7种异常,并准确分类出面板清晰、模糊两种状态,检测准确率高达99.99%,达到行业领先水平。

image.png

除了检测精度以外,实时处理能力也是思谋云质检解决方案的一大亮点。以该项目为例,客户现场部署了10余台AOI设备,1天24小时生成图片多达54万张,数量庞大,如果人工对着这些图判断是否虚焦,检测成本高、耗时长。

云质检解决方案如同AOI设备的管家一般,检测数据可与客户现有MES生产系统、AOI设备连接,打破原有的信息孤岛,实现数据及时响应。每1分钟,云质检方案中的数据管理平台都会同时巡检10余台AOI设备产生的所有图像,并从中发现模糊异常图像,再实时将结果通过IOT系统以信息和邮件的方式推送给客户。相比于原本耗时2个多小时的人工目检方式,云质检方案异常检测效率提升了120倍。

image.png

值得强调的是,通过思谋智能工业平台SMore ViMo,用户可快速上线运行智能检测方案,极大地降低了部署门槛。企业的操作人员即使不具备专业开发能力,也可以通过简单的鼠标拖拉拽操作,仅需0.5天,就能快速实现深度学习模型的自主训练与部署上线,使用方便快捷,节省了大量培训时间,提高了生产效率。

 3►项目成果:降低不良品损失,方案可拓展性强

该项目帮助客户提升了产品良率,解决了人工巡视产生的面板漏检、误检问题,避免产生严重的经济损失。当前段制程产生模糊异常图像时,如果系统不及时报警,让异常图片流入下一个工段,就会造成大批量的错误,图片成像NG率会达到100%,这将导致严重的损失。

举个例子,按照一片75英寸的面板成本为400美元(折合人民币约2677.68元)计算,产线每30秒需要检测一片面板,按照异常发生时间为2小时计算,将会产生损失超过9.6万美元(折合人民币约64.36万元),异常发生时间越长,造成的损失越重。而客户使用云质检方案后,不但可实现品质控制,还能有效降低因漏检、误检导致的重大经济损失。

不仅如此,拥有思谋云质检方案,每年可以节省人力成本约90万元,不仅纾解了工厂的用工压力,还保证了异常图片检测的高效、稳定。

在SMore ViMo的支持下,云质检方案具有强拓展性,只需绑定IP地址,就可以拓展多个厂商、多种型号的AOI检测设备。除了半导体行业,3C电子、新能源等更多其它制造行业也可轻松应用思谋云质检解决方案。思谋目前已在面板行业落地多个重点项目,例如面板外观瑕疵质检等,并已推出多套应用于面板检测场景的软硬件智能一体化检测设备。未来,思谋将以SMore ViMo为核心,依托思谋云质检平台,为更多行业提供高效、易用的视觉解决方案,赋能产业实现质变与升级。

image.png

审核编辑(
王静
)
投诉建议

提交

查看更多评论
其他资讯

查看更多

案例速递 | 如何让像素级缺陷无处隐藏?思谋ViMo二极管缺陷检测来解疑

案例速递 | 思谋ViMo在磁材缺陷智检中的应用

助力生产追溯:思谋读码器条码质量验证功能速递

全方位了解SMore ViMo,看这里

「码」起来!思谋科技智能读码器VS1000产品试用征集中