点光谱应用案例——不透明材质镀膜厚度检测

测量膜厚是现代工业和科研中的一项关键质量控制手段，它通过精确监控涂层或薄膜的厚度，直接确保产品在光学、电学、机械防护等方面的预期性能（如手机屏幕透光性、芯片运行稳定性、汽车漆面防腐性），同时能有效控制生产成本、节约原材料，并保证大规模生产的产品一致性与可靠性，是从研发到制造过程中不可或缺的重要环节。理论说得再透彻，不如让我们看一个海伯森点光谱在实际测厚应用的案例。

检测需求

根据客户提供的测试需求，利用我们的点光谱进行样品镀膜厚度的测量。

检测原理

测试传感器选型

测试方案

圆形样品测试过程

测量镀膜位置1及实测值 测量基面位置1及实测值 测量镀膜位置2及实测值 测量基面位置2及实测值 测量镀膜位置3及实测值 测量基面位置3及实测值

圆形样品测试结果

测试总结 1. 经过测量，圆形样品的镀膜厚度为0.0156mm，长形样品的宽边镀膜厚度为0.018mm，窄边镀膜厚度为0.0248mm 2.在实际测量中建议使用伺服控制载物移动平台，可以减小因测量轨迹变化和样品本身的翘曲度带来的测量误差