以光谱共焦技术破解光学膜材测量痛点

偏振片（也称为偏光膜或偏光片）在AR/VR/XR眼镜中实现着提升图像清晰度与对比度，过滤杂乱光线，优化视觉效果，实现立体视觉等重要作用。

而在偏振片生产过程中，厚度是最基础且关键的尺寸指标。当前传统检测方式面临挑战：

×  接触损伤风险：传统接触式测量易划伤光学膜层

×  数据可靠性低：高反光与透明层叠结构使传统光学测量受干扰

×  多层测量难：偏振片的多层复合结构使单层厚度测量困难

检测架构

针对生产过程中对高效高精度厚度检测的迫切需求。光子精密提出基于CD-5000系列光谱共焦位移传感器的厚度检测方案，并已在典型客户现场完成验证，为客户实现从抽样到全检的质控升级。

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检测需求

检测样品

• 测量项目：偏振片厚度（含透明薄膜）

• 工件特性：多层复合结构，含高反光、透明膜层

• 精度要求：重复性≤0.02mm

• 速度要求：≥100kHz

• 无损测量：非接触式测量避免膜层划伤，检测合格率显著提升。

•  多层测量技术：可识别5层透明/半透明介质厚度，满足复合结构工艺需求。

•  数据可靠稳定：±0.35μm线性度与多重抗干扰技术可将误差稳定在0.2mm以下。

•  效率全面跃升：260kHz采样频率，适配高速产线检测需求。

两组CD-5000光谱共焦传感器上下对射布置于测量区，配合膜片水平运动实现快速多点测量。

此架构可消除倾角影响，即使膜片轻微翘曲/倾斜，也可直接获取真实厚度，无需倾角补偿。

1）原材料来料检验

可对来料进行快速、无损的精密测量，确保检测率提至99.99％。

2） 核心工艺厚度变化监控

批量生产中，集成多传感器于检测台，一次性完成厚度、平面度、翘曲度等多参数测量，数据自动判断并记录，实现全流程质量追溯。

3） 模切/精密切割后（最终成品检验）