工控网首页
>

应用设计

>

欧姆龙成功事例 | 半导体生产中的晶圆定位检查应用

欧姆龙成功事例 | 半导体生产中的晶圆定位检查应用

应用介绍

【行业】半导体

【设备】PVD/CVD/ALD

图片1.png

应用场景

晶圆在送入工艺腔室前的定位检查

图片2.png

解决课题

1、传输腔室为真空环境,无法安装传统光电式传感器,需要穿过玻璃对真空腔室内的晶圆进行检测。

2、碳化硅晶圆、玻璃基板等物体因其高透明性,光线会直接穿透介质,并伴随着外部玻璃的二次反射/折射干扰,造成有或无状态差距较小,无法区分状态。

价值提案

核心产品:智能激光传感器 E3NC

■E3NC拥有CLASS 1级激光光源的传感系统,可穿透玻璃进行检测。

■针对高透明度的物体检测(95%透明度薄膜),E3NC采用多波长的激光光源,通过不同波段光线的穿透与反射特性差异对透明体进行检测。

图片3.png

■E3NC备有网络型放大器,方便导入并监控传感器实时状态,并进行批量快速的传感器设置。

图片4.png

相关产品

智能激光传感器 E3NC

图片5.png

如果您对相关产品感兴趣,欢迎扫码留言,我们将与您取得联系,并有机会获得精美礼品!

图片6.png

图片7.png

审核编辑(
王静
)
投诉建议

提交

查看更多评论
其他资讯

查看更多

欧姆龙成功事例 | OHT天车的放卷对中检查应用

欧姆龙课堂培训丨2026年4月-9月日程表发布

欧姆龙成功事例 | 搬送线电柜内的预测性维护方案

欧姆龙成功事例 | 医疗设备中泵/风扇的状态维护方案

欧姆龙超高速读码器VHV5-F演示:Lua脚本编辑,扩展读码器能力边界