电子制造设备自动化频道

针对电子元器件可靠性问题设计了电子元器件老化测试系统,实现在仿真的温度环境下对电子元器件进行老化测试,自动检测出元器件潜在故障缺陷
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半导体芯片切割控制精度要求非常高,目前国内基本上用的都是进口设备。此为我公司为某半导体厂家开发的设备。可实现原点复归,激光功率检测
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