工控网首页
>

新闻中心

>

行业动态

>

上海华虹二代证项目荣获2008年度国家科技进步一等奖

上海华虹二代证项目荣获2008年度国家科技进步一等奖

2009/2/3 9:34:13
2009年1月9日,中 共中央、国务院在北京隆重举行国家科学技术奖励大会。党和国家领导人胡 锦涛、温家宝、李长春、习 近平、李克强出席大会并为获奖代表颁奖。温家宝代表党中央、国务院在大会上讲话,李克强主持大会。

 

由公安部第一研究所、上海华虹集成电路有限责任公司等八家单位联合申报的《第二代居民身份证》项目,从国家科学技术进步奖254项授奖项目中脱颖而出,荣获2008年度国家科学技术进步奖一等奖。

 

2004年,上海华虹集成电路有限责任公司被国家信息产业部和公安部指定为第二代身份证芯片设计公司之一,自主研发出符合应用规范的“华虹芯”。截止2008年底,全国已顺利完成8亿人口的集中换发证,其中1/3的中国公民都持有一张拥有“华虹芯”的身份证。中国二代身份证是全球最大的RFID身份证项目,这一项目的成功对中国集成电路行业和上海华虹集成电路都有着划时代的意义,标志着中国自主知识产权的RFID高频技术及其产业链已达到国际先进水平

投诉建议

提交

查看更多评论
其他资讯

查看更多

如何零成本获取新技术?世强硬创开辟“新”“多”“快”技术创新之路

梅卡曼德第四代Mech-Eye LSR工业级激光3D相机全新升级

​复购案例| 赣锋锂业选用旷视“四向车+AMR”系统

IT翘楚齐聚海南博鳌 2022全国CIO大会盛大闭幕

诺丁汉大学与摩马智能科技携手推进工业机器人智能化升级