中兴和力科合建实验室应对高速串行设计挑战

在该联合实验室的揭幕仪式上，中兴通讯无线研究院CDMA设计部的刘剑锋部长表示：随着半导体芯片集成度越来越高，信号传输速率越来越快以及产品功能越来越强，通信设备开发和测试也面临“更高、更快、更强”的要求和挑战，因此须加强与业界的合作才能取得共赢，而中兴在跟力科长期的合作过程中经过双方协商，促成了联合实验室的成立。刘剑锋指出，为了突破系统性能瓶颈，中兴通讯一直在追求高速信号测试技术，和力科合建高速信号实验室无疑将有助中兴通讯提升高速信号测试方面的专业水平，并能及时获得测试测量的最新技术和资讯。

随着应用速率的不断提升和芯片复杂度的增加，抖动导致的信号完整性问题成为高速信号测试面临的主要挑战。而为保障测试过程信号不致失真，测试设备必须拥有高带宽特性。而为满足10Gbps高速串行数据的测试，力科不久前推出了具有30GHz实时带宽和80GS/s采样率的串行数据分析仪，并拥有100GHz高带宽的取样示波器。

力科公司副总裁Conrad强调，高速信号所带来的挑战，主要是芯片内部的高速信号完整性问题，诸如力科Eye Doctor信号完整性工具允许仿真芯片内部的串行信号，以帮助降低抖动，改善失真。通过联合实验室，力科将为全球3G技术领先者中兴通讯提供先进测试方案帮助其诊断、分析并解决更复杂的高速信号完整性问题；而力科也将通过这个实验室项目获得中兴通讯的反馈，使力科能够更准确地获悉用户测试过程中所遇到的挑战，以更快地推出解决高速信号完整性问题的新产品与方案。