微捷码牵手凌腾(SynTest)完善仅基于扫描的DFT方法
“这款完全集成化的IC设计流程意味着我们能够处理大型复杂设计,轻松完成最终投片,缩短开发周期,”Uniquify公司总裁兼首席执行官Josh Lee表示。“由于它不仅保持了微捷码在验证和低功耗方面的效率优势,而且还具备了凌腾在调试、诊断和ATE links方面的长处,因此为设计师带来了明显的好处。”
通过将微捷码Talus Design RTL综合工具与DFT PRO Plus结合在一起,设计团队可实现快速的高容量逻辑综合与寄存器传输级(RTL)DFT分析、插入、测试向量生成与验证间的无缝连接,包括:采用Talus Design的扫描插入功能,采用SynTest TurboCheck-RTL/Gate进行详尽的DFT分析和自动修复。这次的集成加入了符合IEEE标准的边界扫描插入与存储器BIST(内建自测试)功能,分别采用SynTest TurboBSD和TurboBist-Memory。这次集成为使用Talus Design的设计团队提供了无缝连接SynTest’s VirtualScanATPG测试向量压缩技术的途径,以生成商用测试工具的XtremeCompact制造向量。
“我们在最新开发中广泛使用了微捷码的Talus RTL-to-GDSI工具和凌腾的测试技术,”Sigma Designs公司工程部副总裁Martinella表示。“这次微捷码IC设计流程中对凌腾的测试技术的更紧密全新集成不仅使得我们能够改善生产率,缩短设计周期,同时所提供的新功能还可帮助我们提高测试覆盖率。”

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