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NI引领PXI技术新风向,第八届PXI技术和应用论坛成功举办

供稿:工控网 2011/6/2 9:19:00
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2011年第八届PXI技术和应用论坛于5月26日在北京国家会议中心成功举办,本次论坛的主题为“PXI与时俱进的标准自动化测控平台”。本次论坛是由美国国家仪器公司(National Instruments,简称NI)主办,安捷伦、凌华科技、泛华测控、北京航天测控、上海聚星仪器等国内外知名PXI供应商和集成商共同参与的PXI交流盛会。
上午的主题演讲拉开了全天活动的序幕。哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所孙圣和教授、NI全球副总裁Victor Mieres、北京大学信息科学与技术学院段晓辉高级工程师出席此次会议并做了主题演讲。来自科研院所、高校、PXI应用厂商及行业媒体的600多人参加了会议。

主题演讲现场

    在主题演讲上,孙圣和教授从仪器与系统系统的演变出发,展望了PXI技术的未来,主要介绍了仪器与仪表发展的主要方向、发展历程,并针对发展现状提出了业界专家应考虑的问题。随后,NI全球副总裁Victor Mieres用富有激情的语言从国家“十二五”规划要求中阐明自主创新的重要性,从而引出PXI助力创新的实例,包括NI PXI应用于 “三网合一”研究项目、PXI在混合动力车研究中的应用等, 证明NIPXI在“十二五”规划中七大战略新兴产业中的应用,同时也看到PXI在传统产业升级中的作用。 之后,NI公司的技术市场工程师徐征为大家回顾了PXI的的发展,并介绍了PXI最新技术,说明了模块化仪器架构将成为主流发展,软件自定义、深度不断扩展及集成混合总线系统将有更多的市场需求。最后,北京大学的段晓辉工程师通过“三网合一”项目研究的实际案例,说明了PXI在现代科技发展的重要性和必要性。

图为孙教授和NI全球副总裁现场演讲

 

    为了让参观者全面且有针对性的了解PXI先进性与实用性,主办方将本次论坛分为测控应用开发平台、行业应用、PXI标准与最新发展、基于PXI构建完整自动化测试系统等四个专题,展开了近20场的讲座。论坛上,NI推出与泰克联合共同研发的业内最高性能的PXI数字化仪——具有5GHz带宽和12.5GS/s采样率的NI PXIe-5186以及3GHz带宽和12.5GS/s采样率的NI PXIe-5185两款全新数字仪。该款新品可用于实现大型物理应用、RF应用及自动化电子测量等。

NI与泰克的媒体发布会

    在这次论坛期间,NI携手八家国内外知名PXI供应商和集成商以展台的形式亮相,让更多参观者亲自体验和感受PXI技术在实际的应用。参观者不管是从获取技术信息的层面还是从PXI行业应用方面都受益匪浅。

 

                         NI展台前,工程师正在为前来咨询人士进行讲解

    随着科学技术的快速发展,市场需求也在不断的发生着改变。PXI作为一种开放的工业标准,正在向着满足不断增加的复杂仪器系统需求的方向改变着。

 

 

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