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NIdays秀场直播1——自动化测试与测量及嵌入式控制检测

NIdays秀场直播1——自动化测试与测量及嵌入式控制检测

2014/11/15 0:00:00

20141114日,美国国家仪器(以下简称NI)举办的“You and NI will-NIDays”活动在北京万达索菲特酒店顺利举行。在观众倾听来自NI的行业工程师们专业的演讲之际,NI产品秀以其前瞻性技术及酷炫之姿吸引了观众的眼球。最新最热门的应用展示,涵盖了从资产状态监测、射频与无线通信、半导体测试、智能机器控制及国防航空航天等重要的领域。

下面,让gongkong小编带您共同享受NI产品秀的视觉盛宴。

自动化测试与测量——灵活与高效并驾齐驱

NI提供完整、可扩展的自动化测试与测量平台,帮助用户创建高性能的自动化测试测量系统,快速完成部署、缩短产品研发和生产周期,从而加快测试系统开发、更快更灵活地进行测试,降低测试时间及成本,提高系统寿命和成功机会。自动化测试与测量单元作为NI此次最大的展区之一,共展出来自消费电子、音像、建筑、航空等多个领域的解决方案。

自动化测试与测量展区

建筑检测中的模拟、数字及光纤光栅传感器采集、振动及模态分析、数据管理等,利用NI的模块化硬件及软件平台均可实现。目前它已在东海大桥、长江隧桥、青岛海湾大桥等结构健康监测中应用。

通过PXI模块化硬件,结合NILabview 以及自动化测试软件Textstand, 可以方便地测量各种信号,可以实现由消费类通讯产品的功能性测试。该演示实现了对4部摩托罗拉安卓智能手机的自动化测试。

基于仪器驱动FPGA扩展的RFIC的自动化测试系统

NI模拟音频分析及音频分析

嵌入式控制与检测——客户轻松进行自定义设计

NI采用统一的 LabviewRIO开放式架构(I/O架构),具有高性能的浮点处理器,配置FPGA的板卡以及模块化I/O,用户无需底层硬件开发或者板卡设计经验即可快速进行嵌入式系统的自定义设计、选型及发布。

嵌入式控制与检测展台

NI CompactRIO软件设计的控制器配备最新的Intel Atom处理器和XilinxKintex-7 FPGA,为小巧坚固的控制系统设定了更高的性能标准。通过将本地HMI等系统组件集成到单个控制系统,降低开发成本和设计复杂性。同时还可借助灵活开放的NI LabVIEW开发环境更快速开发系统。

NI SOM智能眼镜嵌入式芯片

(gk-CJT播报)

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