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用光谱测量!OC Sharp纳米级激光距离传感器上市

供稿:西克中国 2015/11/27 14:55:42
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    纳米级光谱共焦法位移传感器 OC Sharp 上市了!

    OC Sharp属于短距离激光测距(也叫位移传感器)产品,其测量基于“光谱分析”原理,是和原OD系列采用的“三角测量法”原理完全不同的最新技术。SICK提供“光谱共焦”和“光谱干涉”2种测量原理的测量头,精度可以达到纳米(10-9米)级(即分子水平),是目前全球最高精度的非接触式测量传感器之一。全新“光谱分析”技术保证可以适应任何颜色的被测物,其测量头是纯机械结构的光学部件,不含电子元器件,杜绝电磁干扰和高温影响。同时,它使用的是白色直射可见光,完美适应弧面和深孔等测量应用。

    基于以上优异的产品特性,OC Sharp十分适用于电子和太阳能行业中半导体硅片表面晶相测量,制药行业中试管内药物液位高精度测量,玻璃行业中玻璃高精度测厚,以及包装等行业中薄膜测厚。

    详情请点击:OC Sharp 纳米级位移传感器 产品信息

审核编辑(吴新慧)
更多内容请访问 西克中国(http://c.gongkong.com/?cid=493)

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