蔡司邀您 共同揭晓「蔡司全新数码显微镜」的黑科技

光学检测作为智能制造的关键一环，一直以来肩负着工业制造过程中产品质量、精度和性能等方面的重要保证。近年来，更是被广泛用于消费电子、半导体芯片，汽车零部件等质量检测中，为制造业从材料分析到生产，再到装配及失效分析全面赋能，向高质量发展努力转型。

在即将于上海新国际博览中心（3月20-22日）举办的2024慕尼黑“上海光博会”（LASER WORLD of PHOTONICS CHINA2024）上，「质量」专家蔡司将再度携一众质量解决方案重磅登场——届时，您将领略蔡司最新光学系统复合式检测解决方案，，显微分析质量解决方案，连接器无损检测解决方案，蓝光三维光学扫描质量解决方案等。

而更值得期待的是，展会首日，蔡司还将正式发布旗下显微镜家族的新品ZEISS Axio Zoom.V16，这款兼具高分辨率与高效率的蔡司数码显微镜究竟将带来哪些创新？3月20日上午11：00，蔡司展台W4102，我们将现场为您揭晓，敬请期待！

先剧透现场部分精彩  

看点1

光学系统复合式检测解决方案 | 功率模块IGBT

挑战：复杂零件的多测头复合测量

蔡司解决方案 | O-INSPECT 543复合测量机 搭载 CALYPSO以及PiWeb

多功能复合测量 更高检测效率全新共聚焦白光系统

更灵活应对不同的应用

软件系统 功能强大却简单易学

看点2

复合式质量解决方案 | 电子器材

挑战：电子领域背板连接器测量挑战

蔡司解决方案 | O-DETECT 322复合式检测

高效光学测量 更高检测效率

全景相机导航 方便编程

软件系统 功能强大却简单易学

看点3

显微分析质量解决方案 | 电子器材

挑战：线路板生产过程中大量切片样品的观察与层厚的测量挑战

蔡司解决方案 | 光学数码显微镜Axio Scope 7

简单易操作

成像质量好

XYZ轴全电动机型

看点4

CT检测质量解决方案 | 电子产品

连接器产业链的测量挑战（从生产到装配及失效分析）

蔡司解决方案 | ZEISS METROTOM | 生产过程

一台设备具备多种功能包括但不限于GD&T检测，失效分析，非破坏性测试

借助孔隙率分析功能优化注塑工艺参数

低使用成本、低维护成本、较小占地面积（1.6㎡）

多工件批量扫描、自动化检测脚本，有效节约人力和时间

蔡司解决方案 | ZEISS METROTOM + ZEISS INSPECT X-Ray | 装配及失效分析

在整个测量范围内具备可追溯的计量精度

ZEISS INSPECT X-Ray 简便易用，功能强大

无损检测，无需剖切

ZEISS Metrotom多样产品序列满足客户各种需求

AMMAR 及BHC各类伪影校正功能，显著提升图像质量

更多精彩

欢迎来展会现场与我们相聚

（展位号：W4102）