工控网首页
>

新闻中心

>

业界动态

>

欧姆龙成功事例:半导体炉管wafer凸出的远距离稳定检测方案

欧姆龙成功事例:半导体炉管wafer凸出的远距离稳定检测方案

应用介绍

【行业】SEMI

【设备】炉管

【用途】用于晶圆的批量热处理

 

1.jpg


使用场景

检测石英晶圆舟晶圆是否有突出,防止自动取片时发生异常。

 

2.jpg


场景:晶舟上wafer的突出检测


解决课题

1、多达150片wafer时的高度检测,容易发生wafer的横向移动,需要稳定检测。

2、因检测距离远,调试时光轴对准难度大。


价值提案

核心产品:距离设定型光电开关 E3Z-LR

1级激光光源,保证远距离的检测下可检测1mm的位置变化。

激光束方向的变化可被抑制并且光点直径可自由更改,方便远距离时光轴的调整。

 

3.jpg


相关产品

E3Z-LT / LR / LL

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/1747/

 

4.jpg


若您对本产品感兴趣,欢迎扫码留下您的联系方式,欧姆龙工程师将尽快与您联络!

 5.png


审核编辑(
唐楠
)
投诉建议

提交

查看更多评论
其他资讯

查看更多

欧姆龙光电传感器E3AS-HL抗光干扰演示:不惧强光,稳定检出

欧姆龙课堂培训 | 国产设备出海必修课《安全系统搭建》日程发布

欧姆龙免费公开课丨《NJ/NX轻松连接Modbus TCP设备》

欧姆龙成功事例 | 研磨机wafer预载位的高精度检测方案

欧姆龙光电传感器E3AS-HL:吸光材质工件检测演示