泛华测控——噪声源定位分析系统
泛华测控提供的噪声定位分析系统是辅助设备厂商进行设备降噪设计的理想工具,能够帮助工程师快速地:找出设备上主要噪声源的位置、识别不同频带上的噪声源、提取感兴趣噪声源发出的噪声信号等。
产品分类:工控机
品牌:泛华恒兴
产品介绍
使用NI的产品:
-LabVIEW
-高精度采集卡
注:用户可根据测试需求选择产品具体型号
系统功能:
-声源定位:根据显示在设备图片上的各位置处噪声能量大小,用户可快速地找出主要噪声源。
-声源识别:可识别不同频带上的主要噪声源及其所在的位置。
-声源信号分离:可从复杂的设备噪声信号中分离出指定位置处的噪声源信号,然后进行频谱分析与声音回放,也可导出进行自定义分析。
-频谱分析:可对任意时间段的噪声进行频谱分析,显示声音信号能量谱密度信息。
-联合时频分析:以时间、频率为坐标轴,显示声音信号能量谱密度信息。
系统简述:
泛华测控提供的噪声定位分析系统是辅助设备厂商进行设备降噪设计的理想工具,能够帮助工程师快速地:找出设备上主要噪声源的位置、识别不同频带上的噪声源、提取感兴趣噪声源发出的噪声信号等。
系统特点:
-独特的多声源定位:在允许的分辨率范围内,系统可同时对多个声源进行精确定位。
-简单的操作方式:将麦克风阵列放置在设备前方一定位置后,运行系统软件即可对设备噪声进行采集与分析。
-直观的显示方式:系统在拍摄的设备图片上显示各位置对应的噪声相对能量大小。
-方便的阵列放置:无须将麦克风阵列贴近被测对象表面(d<<λ),增大了系统的“视野”,也避免了近场声全息方法对阵列位置约束的局限性。
-灵活的阵列配置:阵列能够根据各种不同的声场状况进行灵活配置,以获得理想的分析效果。
以标准阵列为例,列出系统的各项技术指标:
(说明:标准阵列是指8×8的均匀平面阵型,阵元间距为0.1m,麦克风为MPA416。另外,我们也可以根据客户的具体需求,设计出理想的阵列提供给客户。)
指标
规格
指标简介
备注
物理范围
1.2m×1.2m
在一定距离点上(1m、平行于阵列的平面上,系统能够分析的噪声源物理范围)
增大阵列与被测对象之间的距离,可以扩大分析范围
分辨率
*0.35m
系统区别不同位置噪声源的能力
减小距离、增加阵元或提高分析频率,可以提高系统分辨率
频率范围
800Hz~2500Hz
—
减小阵元间距,可以提高频率分析上限;反之,增大阵元间距,可以降低频率的分析下限
声压范围(3%失真)
XdB~127dB
—
下限X等于背景噪声声压
工作温度
-10~50℃
—
—
工作湿度
0~98% RH
—
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提交
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