Mirle-盟立 AOI自动光学检测系统_盟立AOI自动光学检测系统_

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Mirle-盟立 AOI自动光学检测系统

Mirle-盟立自动化科技(上海)有限公司

2014/1/13 14:06:46

产品简介：

在更加轻薄之玻璃与电路板问世后，为突破传统人工检查的缺点，例如人力检查的可重复性低与低良率、视觉疲劳导致的疏忽缺陷、渐增的人力成本，以及效率差等问题，使厂家对AOI的需求与日俱增，逐渐在装配线上取代人为检查。

产品分类：

机器视觉其它

品牌：

盟立

产品介绍

在更加轻薄之玻璃与电路板问世后，为突破传统人工检查的缺点，例如人力检查的可重复性低与低良率、视觉疲劳导致的疏忽缺陷、渐增的人力成本，以及效率差等问题，使厂家对AOI的需求与日俱增，逐渐在装配线上取代人为检查。

所谓AO I系统，即整合光电、影像处理与自动化应用技术而成的自动光学检测设备。AOI应用范围极广，可包含FPD/ TP/PCB/Semi-Conductor/机械工业/医疗/食品等等；举例来说，应用在T/P上可做素玻璃、网印玻璃、ITO玻璃/LCM来料检、成品检查、Before/After cutting检，背壳，OGS外观检，组装对位等；FPD产业则可做Mura检测，Color filter检测，PI检测，色度/膜厚/光学密度量测等。

看好此广大应用与商机，盟立开发自动化AOI检查系统，乃经由载盘传送待检品，透过扫描CCD取得影像，藉由影像处理演算法及多角度的打光，自动检知检品的外观缺陷；以Cover lens为例，可检如圆孔边缘破损不齐、刮伤、压伤、脏汙、牙边、溢墨、透光、白点、异色点、凹凸点等约十四种缺陷。检查完后还可将NG品分成四大类。

盟立AOI系统特色为使用Line Scan Camera为主的Line Scan侦测缺陷，可作高解析度及大视野的快速取像（外同轴正光，侧光，背光），辅以Area Scan Camera作补强机制，减少误判；影像检查采用软体，具备最新、功能最多的开发平台。查询系统可图示缺陷位置，配合人性化人机界面，可快速查询缺陷位置及大小，提供操作者迅速搜寻功能供返工处理。

盟立AOI技术更深获各大厂大力讚赏且持续与盟立团队合作；盟立将持续秉持第一次就做到最好的精神，提供国內外厂制程自动化完整的配套解决方案。