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研讨会 
NI下一代自动化测试系统的必备技术研讨会
  • 开始时间:2008-7-15
  • 截至时间:2008-8-19
  • 费用:
  • 地点:07/15 昆明,07/17 惠州,07/22 福州,07/23 绵阳,08/19 深圳,
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简介:
本次研讨会将会探讨下一代自动化测试系统发展的趋势和需求,并提出以软件为中心的模块化的架构,以构建灵活可扩展的、可靠的测试系统,进一步提升系统的吞吐能力,降低系统的投资。内容将涉及系统管理软件、应用软件、驱动和服务以及强大的PXI/PXI Express平台和模块化的I/O,并通过实际的产品和案例逐一介绍从直流到射频的多种功能测试。

本次研讨会专为以下工程师量身定做/精心设计:
自动化测试测量工程师、研究人员和架构师

您将通过本次研讨会:
如何构建软件定义的模块化的自动化测试系统
如何满足客户对测试系统高性能、可靠性、灵活性、可扩展性、低成本和长期使用性的要求
深入了解声音振动测试、视频测试、数字信号测试、射频测试、高速数字化仪以及电压、电流、功率等测量应用

涉及的产品/应用/演示包括:
LabVIEW,TestStand,DIAdem
PXI/PXI Express平台,从直流到射频的各类模块化硬件

时间地点:
07/15 昆明 14:00-17:00
昆明绿洲大酒店(昆明盘龙区拓东路80号,在世博大厦对面)
07/17 惠州 14:00-17:00
惠州康帝国际酒店4楼北京厅(惠州市环城西一路渡口所)
07/22 福州 14:00-17:00
福州香格里拉大酒店3楼鼓浪屿(福州新权南路9号)
07/23 绵阳 14:00-17:00
绵阳临园宾馆2楼多功能厅(绵阳临园路东段68号)
08/19 深圳 14:00-17:00
深圳凯宾斯基酒店3楼K3&K4厅(深圳市南山区后海滨路海德三道)


更多研讨会资料:
常规测量技术指南
您未曾了解的LabVIEW 8.5 五大特性



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