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应用分享丨告别测量盲区!锂电极片刻槽检测新方案

应用分享丨告别测量盲区!锂电极片刻槽检测新方案

前言

在锂电池前段极片制造工序中,正、负极片普遍采用激光刻槽工艺,该工艺不仅可提升电解液浸润性以提高生产效率,还能增强电芯充放电性能。

刻槽属于精密微结构,其三维尺寸和形貌精度会直接影响成品品质,开展精密三维量测,是把控锂电池生产良率的关键环节。

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检测难点

(1)三维信息采集受限

激光刻槽为窄深式微结构,2D视觉仅可识别槽口平面特征,无法获取槽深、槽底等三维数据,难以排查隐性尺寸缺陷。

(2)测量精度要求严苛

极片刻槽深度一般为10μm-30μm,宽度约100μm,微小尺寸要求检测设备在Z方向测量精度高,否则无法测量刻槽的深度信息。

(3)结构与工况易造成光路遮挡

极片刻槽结构狭长,若采用激光三角测量易产生光路阴影,槽底测量受限;且极片幅面宽大,在线检测过程中会存在角度偏移、轻微起伏等问题,对检测设备的兼容性提出较高要求。

埃科光电解决方案:线光谱共焦传感器

针对极片刻槽精度要求高、结构狭长、工况复杂等检测难点,埃科线光谱共焦传感器凭借亚微米级精度、零阴影扫描与出色兼容角度等多项优势,有效化解检测痛点,为锂电池制造工序进行精密把关。

高分辨率成像 亚微米级精度

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线光谱共焦技术通过分析被测物反射回来的单色光波长信息,计算得到物体的高度信息,从而实现高精度、强抗干扰的三维测量。

线光谱共焦传感器SG4025轮廓数据数量达到4096个,且X轴轮廓数据间隔小至2.5μm,Z轴重复精度0.25μm,具备亚微米级测量精度,可精准测量刻槽深度信息,生成高密度真实三维点云数据。

同轴线共焦 无惧光路遮挡

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埃科光电线光谱共焦传感器采用同轴光学设计,测量光和反射光沿相同的路径传播,可规避刻槽深径比结构带来的光路遮挡问题,直达槽底完成形貌采集。

大角度镜面兼容 适配复杂工况

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得益于同轴光路设计与大数值孔径光学设计,SG4025镜面兼容角度达到±30°,能够应对深孔、缝隙、弯曲等复杂形貌的表面检测,有效适配极片在线检测过程中的小幅姿态偏移,精准识别极片刻槽结构形貌特征,满足复杂工况带来的严苛应用要求。

 

产品参数

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检测效果

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结语

线光谱共焦传感器SG4025为极片刻槽检测打造稳定高效的三维量测方案,助力新能源高端制造实现精度、效率与良率的全面提升。

埃科光电深耕高端工业传感赛道,面对锂电池极片制造、电芯合成、模组PACK各制程,已构建起覆盖全工艺流程的视觉检测解决方案。未来,我们将继续攻坚前沿技术“无人区”,携手产业链伙伴开创中国智能工业高质量发展新局面。

 

如需了解更详细的产品参数

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欢迎联系我们!

 


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李娜
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