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LA 系列实验室分析天平提供零缺陷精密测量,即使是应用在复杂的测量过程

LA 系列实验室分析天平提供零缺陷精密测量,即使是应用在复杂的测量过程

2007/8/24 14:54:00
永不满足的天平
LA 系列实验室分析天平提供零缺陷精密测量,即使是应用在复杂的测量过程。
拥有坚固外壳和超级单体传感器十分有利于抵抗外界干扰。高等级不锈钢制作的秤盘和称量室抵抗化学腐蚀易于清洗。键盘的软盖也是由高度耐腐蚀材料制成所以富有弹性。

LA系列显示技术结合接口确保在周围环境中安装使用更加稳定,例如有效减少来自显示器内部防风舱产生的热辐射。

内置标准应用程序包,不仅满足使用者日常需要也可应用于不常用的实验室项目。此类应用例子取决于微小物质测量根据美国药典,也可能取决于持续测量不确定的物质根据德国DKD。

LA系列界面有非常友好的控制键,清晰的接口有多种语言选择还有方便阅读的显示屏。提供额外的型号,31种型号测量精度达0.1mg,量程达64KG。可以建立远程控制显示屏和控制单元,赋予使用者更多灵活性。

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