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NI 工业测控系统应用资料集(2010)

NI 工业测控系统应用资料集(2010)

  • 资料格式:

    zip

  • 资料大小:

    0.794MB

  • 授权方式:

    免费

  • 简介:

    NI LabVIEW图形化开发环境,结合基于配置的工具和强大的编程功能,适于开发配有专业用户界面的测量、分析和控制应用程序。NI LabVIEW和NI PAC帮助用户轻松触及FPGA技术,用户因而能够自行定义控制电路,同时削减了传统自定义硬件中的复杂性和成本。


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更多内容请访问 NI-美国国家仪器有限公司
(http://c.gongkong.com/?cid=49325)

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