工控网首页
>

资料下载

>

NI 工业测控系统应用资料集(2010)

NI 工业测控系统应用资料集(2010)

  • 资料格式:

    zip

  • 资料大小:

    0.794MB

  • 授权方式:

    免费

  • 简介:

    NI LabVIEW图形化开发环境,结合基于配置的工具和强大的编程功能,适于开发配有专业用户界面的测量、分析和控制应用程序。NI LabVIEW和NI PAC帮助用户轻松触及FPGA技术,用户因而能够自行定义控制电路,同时削减了传统自定义硬件中的复杂性和成本。


立即下载

更多内容请访问 NI-美国国家仪器有限公司
(http://c.gongkong.com/?cid=49325)

投诉建议

提交

查看更多评论
其他资讯

查看更多

NI与中汽研数据资源中心共建智能网联汽车虚拟仿真联合实验室

电气化迫使测试工程师加快速度

NI与NanoSemi合作开展先进的5G测试

NI在CIDEX 2018上强调助力中国新一代军工技术腾飞

得益“跨界&生态”先天基因,NI加盟ECC力推边缘计算落地行业应用