基于PXI构建先进自动化测试系统
2012/3/19 10:20:14
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资料格式：
zip
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资料大小：
29.921MB
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授权方式：
免费
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简介：
本讲座总结过去30年以来自动化测试测量领域的发展趋势，并在此基础上展望新一代基于软件定义的PXI模块化仪器平台的系统架构。同时，结合PXI平台应用于自动化测试测量领域的部分典型案例，为您揭示软件定义对于新一代测试测量系统的重要作用。
更多内容请访问 NI-美国国家仪器有限公司
（http://c.gongkong.com/?cid=49325)
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