使用定量加样系统减少样品制备过程中的错误和超差

会议名称：使用定量加样系统减少样品制备过程中的错误和超差（OoS)

会议时间：2014-10-1414:30 （教室于 2014/10/1414:00:00开放） 会议时长： 2小时

会议主讲人：季忱

 梅特勒-托利多公司天平部产品主管，具有7年的天平产品管理、市场推广经验，并参与起草《JJG658-2010烘干法水分测定仪检定规程》。现主要负责Quantos自动化定量加样系统及其它称量解决方案的市场开发和应用支持。

会议内容简介：

 HPLC/GC等实验分析过程中，超过50%的实验误差源自标准品/样品溶液的制备，且该过程耗时又费力。梅特勒-托利多将给您的实验室带来一场革命：Quantos自动化粉末/液体定量加样系统，实现流程中的关键步骤的自动化，例如称量、加入溶剂、稀释，将始终为您提供正确的结果，减少超差(OoS)结果。

环境配置：只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。（需要进行音频交流的用户需准备麦克）

报名截止时间：2014年10月14日 14:00

免费报名地址：http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/941