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蔡司光学测量家族系列:以非接触式精准,守护工业质量高度

蔡司光学测量家族系列:以非接触式精准,守护工业质量高度

在工业制造的精密世界里,每一个微小的尺寸偏差都可能影响产品的性能与安全。当工业制造进入微米级精度竞争时代,传统测量方式在面对微小部件、复杂形状或易损材质时,需要更适配的技术方案来突破局限。蔡司作为光学测量领域的先锋,凭借百年光学技术积淀,其推出的影像三坐标测量机系列,提供了从快速影像测量到复合式检测的全方位解决方案,在电子、汽车、医疗等行业大显身手。


O-DETECT快速精准的影像测量

对于追求高效与便捷的生产场景,ZEISS O-DETECT 是理想之选。它以直观操作、高质量成像和灵活照明为核心,兼具快速与精准的特性,操作简便,即使是新手也能快速上手。


核心优势

高图像质量和出色的光学系统

以高分辨率提供大观察视野,捕捉更多细节。

使用500万像素的相机捕获高质量的图像,将图像转换为精准的测量结果。


图片1.jpg  

zeiss-odetect-toplight.jpg


灵活的配置选项

可升级为复合式测量设备,选配接触式传感器,易于升级。

 

zeiss_xdt-sensor.jpg


不同照明选项,更具灵活性

可更换附件平台。

多功能且易于更换的顶灯,对准确的测量结果起着关键作用。

 

图片1.gif


O-INSPECT复合测量,兼顾精度与灵活

ZEISS O-INSPECT 复合式测量机则实现了光学与接触式测量的融合,让您能以适合的方式通过光学或接触式测量到每一个特征。它在 1D、2D 和 3D 方面皆符合 ISO-10360 验收标准,保证了测量结果的可靠性。


核心优势

大观察视野,提供良好的图像质量

ZEISS Discovery.V12相机传感器,捕捉微小细节。


CKF01451.jpg

 

敏感表面的光学测量

ZEISS Dotscan以非接触的方式捕捉工件形貌。


O-INSPECT_DotScan_Closeup.jpg

 

快速准确的三维触觉测量

ZEISS VAST XXT一次扫描即可获取大量测量点,实现高精度扫描。

 

zeiss_xdt-sensor.jpg


O-INSPECT duo一机双能,效率与空间双提升

ZEISS O-INSPECT duo作为蔡司首款多技术合一系统,将测量技术和显微技术融为一体,兼具显微镜与光学及接触式测量功能,是一款真正的多传感器设备。

核心优势

显微镜和测量机合二为一

多传感器测量机,准确的光学和接触式测量。

 

图片3.jpg


500万像素高分辨率彩色相机,准确检测缺陷。

 

图片2.jpg


双软件支持

配备两款专为各自任务设计的软件:用于测量的ZEISS CALYPSO,和用于显微观察的ZEISS ZEN core。


CALYPSO Visual + Text.jpg

Connected KV Microscopy Version_V3_Precise_Cmyk.jpg

  

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唐楠
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