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LAP CALIX激光三角法测厚传感器

LAP CALIX激光三角法测厚传感器

产品简介:

CALIX系列是LAP公司测厚产品中一款一体化封装的测厚传感器。它可以完全替代位移传感器和测量框架组成的测厚应用而无需温度补偿和频率校验。

产品分类:

离散传感器 激光检测

品牌:

LAP

产品介绍

特点:
• 一对传感器完成厚度测量
• 精度高
• 不受温度影响
• 4kHz高速测量频率
• 以太网接口


高度集成,温度补偿,高效
CALIX系列是LAP公司测厚产品中一款一体化封装的测厚传感器。它可以完全替代位移传感器和测量框架组成的测厚应用而无需温度补偿和频率校验。

测量的激光束由LAP公司优化处理,CALIX传感器无需进行测量框架上位移传感器复杂的对中问题,消除了由于位移传感器安装位置引起的错误。

LAP的CALIX传感器可方便的集成到生产线中,从侧面安装到被测物的指定位置即可,无需O形框架或龙门架。

灵活,精确,通用型强
CALIX传感器适合不同的厚度测量范围和不同长度的测量臂。测量臂通常限制了测量点到被测物边缘的距离,CALIX传感器也可以用于移动式的应用及传感器可以从被测物边缘移进移出。 

CALIX传感器实质上依赖于独立的测量臂和不同的量程范围可以对所有的被测物测出非常准确的测量结果,它可以自动调节针对不同颜色和表面被测物的处理方法,无论是测量光泽度高的铝材还是黑色的橡胶,还是测量较软的材料还是硬的材料,都一样应付自如。 

工作原理
CALIX 传感器通过微分三角法原理工作,近似于机械千分尺。
两个三角激光模块从相对的两侧分别测出到被测物表面的距离,零点在生产中标定,厚度是通过测出的距离及原始标定的零点自动计算得出。


整体方案
CALIX 传感器测量结果可直接显示或传输给工控机PLC使用。

两轨道测量师将两个CALIX传感器 安装在对应的两侧,以检测截面上不同位置的厚度变化。

当然也可使用多个CALIX传感器组成多轨道测量系统,只要选配不同测量臂的CALIX传感器即可。 

要测量截面轮廓,可在被测物的边缘左右移动,由于CALIX传感器是整体移动,所以测量精度稳定,准确。

简单集成
LAP CALIX 传感器提供以太网接口和RS485接口输出。

以太网 UDP接口轻松连接到工控机或PLC的网络卡,
内置有一个简单软件,可通过网络口进行数据接收。

RS485信号可兼容所用使用LAP SynchroNet协议的设备。
RS485可同时传输多个CALIX传感器的数据。LAP也提供可连接Profibus DP 或RS232 (ASCII)的可选接口。

数字化的高精度
与传统的激光传感器相比,CALIX传感器使用了高分辨率的CCD或CMOS线扫描摄像机,DSP(数字信号处理器)提供了纯数字的测量采样和数字输出。这种组合提供了稳定的输出信号,保证数据在工业噪音环境下长距离传输的准确传输。

数据采集和软件
LAP提供的软件包括数据采集,可视化界面和存档,存档可提供SQL数据库或连接到客户的数据库。软件适用于单轨道,多轨道和移动式CALIX系统。

基本参数

技术数据
除了标准型号,LAP也提供非标型号。


可选件 
• 多轨道一体机
• 个性化测量臂
• 空气滤清装置,显示器
• 个性化软件

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