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LAP 扫描式厚度测量仪

LAP 扫描式厚度测量仪

LAP激光应用(亚太区)有限公司上海代表处

2008/6/25 10:53:22

产品简介：

LAP 扫描式厚度测量仪实时的数据显示功能，便于快速控制，反应；超差报警功能；数据库系统，便于存档。

产品分类：

离散传感器

品牌：

LAP

产品介绍

结构特点
铝合金框架，坚固耐用
一体型伺服机构，精度高
扫描速度快
良好的防护装置
结构简单，使用安全激光测量
坚固的丝杠系统
西门子伺服系统
CE标准设计制造
免维护设计

性能特点

为客户度身定制的系统，灵活的设计和友好的软件界面使用户快速投入工厂的使用。

 实时的数据显示功能，便于快速控制，反应
 超差报警功能
 数据库系统，便于存档
 可视化曲线，直观
 系统具有网络接入口，适合工厂的网络化管理
 灵活的校验系统，使用简单
 测量结果的数据比对功能
 独立公差设定功能
 不同颜色显示超差数据
 标准化的报表输出功能
 软件具有数据统计分析功能，如Cp/Cpk等。
 软件可在Windows XP/2000/NT操作系统上使用，
也可以在Linux 或Sun Solaris操作系统上使用。

技术参数

参数

* 截面重复性小于0.2%

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