第五届“仪器仪表与测控技术”国际学术研讨会（ISICT’2003）

近年来仪器仪表与测控技术随着计算机和信息技术的进步得到了蓬勃的发展，出现了很多新的理论、方法和技术手段，广泛应用于提高企业的技术水平，生产效率和产品质量，在国民经济及航空、航天等领域起着非常重要的作用。为了进一步加强国际间的交流和合作，我们在成功地举办了四届亚太地区仪表测试与自动控制国际学术会议的基础上，拟于2003年8月22-25日在北京召开第五届仪器仪表与测控技术国际学术研讨会ISICT’2003（5th International Symposium on Instrumentation and Control Technology）。此次会议将为来自国内外仪器仪表、测试及自动控制方面，特别是致力于航空、航天等领域的专家、学者和工程技术人员提供一个交流学术思想以及开发、应用经验的机会，热烈欢迎国内外相关领域的专家、学者踊跃投稿和参加会议。 会议组织机构 主办单位：中国航空学会、中国仪器仪表学会、中国宇航学会、中国自动化学会、中国国家自然科学基金委 承办单位：北京航空航天大学, Hiroshima Shudo University (Japan)，Pusan National University (Korea)，University of Essen(Germany) 大会主席：金国藩教授，中国工程院院士，世界光学委员会副主席。 大会荣誉主席团：由杨嘉墀、黄尚廉等院士和黄俊钦教授等国内外著名教授组成 大会程序委员会主席：张广军教授 大会组织委员会主席：焦宗夏教授 会议内容 　　特邀来自国内外著名大学、科研院所的约20位院士、专家和教授做关于仪器仪表与自动控制技术的发展前沿、现状等方面的主题报告；专题研讨；学术交流等。会议语言：英语 征文范围 传感器技术 信号采集、处理与分析 测量与仪器仪表 米测量与MEMS 光电技术与仪器 自动化测量、控制、总线与网络 控制理论与自动化 建模与仿真技术 故障检测与诊断 人工智能与专家系统 征文时间 论文摘要截止日期：2003年1月15日 论文录用通知发出日期：2003年3月10日之前 论文全文截稿日期： 2003年6月1日 投稿要求 　　所提交论文的内容须是尚未公开发表过的近期研究成果。会议评审委员会将根据论文摘要决定是否录用。论文摘要字数应大于500字（words），用英文书写，并请说明研究工作的目的、实验原理和方法、结果及最终结论等主要内容。摘要中还需列出3-5个关键词，以及作者的通讯方式（含电子邮件地址）。摘要请用A4纸打印，并于2003年1月15日前通过信函、传真或电子邮件等方式寄到北京航空航天大学自动化学院，ISICT’2003会议秘书处。 　　作者应保证发表的文章不涉及国家机密，已录取的文章应附单位不涉密证明。 　　会议论文集争取被ISTP检索；优秀论文将被推荐到航空学报、宇航学报等学报上发表。 投稿地址（会议秘书处） 联系人：赵慧洁 王晓梅 地 址：北京市海淀区学院路37号 北京航空航天大学自动化学院，100083 电 话：010-82317334，82315884 传 真：010-82328116/82316100 电子邮件：isict_2003@dept3.buaa.edu.cn 会议网址：http://isict.dept3.buaa.edu.cn