GE检测控制技术即将参与2012年中国半导体展览会Semicon China_GE检测控制技术_Semicon

GE检测控制技术即将参与2012年中国半导体展览会Semicon China

2012/3/8 13:23:58

“GE检测控制技术即将参加在上海举办的2012年中国半导体展览会 Semicon China.即时会向观众展示GE的高性能X射线检测系统，这是一款GE去年新推出的具有卓越的性价比的检测系统，可简便地用于半导体分装封装和线路板组装等电子行业领域。除此之外，还会展示GE的传感器，现场仪表以及超声检测系统等。欢迎莅临指导，GE展位号：E5馆5505-5507，上海新国际展览中心。”