2012年GE无损检测技术典型应用案例交流会顺利在上海召开

       2012年10月31日-11月2日，“2012年GE无损检测技术典型应用案例交流会”在上海GE中国科技园顺利召开。此次会议的目的是为了深入反映我国无损检测界所面临的全新挑战，展示业界的智慧成果，通过实际检测应用案例的分享和介绍，提升我国无损检测界的实际检测应用水平。

       此次会上介绍的15个精选案例，是经过为期一个多月的案例征集，从30多个提交案例中，经过专家评审会从实用性、行业代表性、技术性、经济成本以及对其它行业的借鉴意义五个方面综合考虑评选出来的，分别由GE的专家、相关行业内的专家及用户来介绍。内容涉及超声、X射线、相控阵、数字射线、内窥镜等技术，行业涉及航空航天、电力、石油天然气、冶金等。
       此次交流会中，所有的参会人员还有机会参观了位于GE科技园中的X射线实验室以及GE检测控制技术在今年7月投入运营的客户应用中心。GE的专家向用户现场展示了GE新的技术和产品以及它们的实际操作情况，其中包括USM Go 超声波探伤仪、USM vision 焊缝超声波相控阵TOFD解决方案、Rightrax 腐蚀壁厚监控系列等。

        GE检测控制技术中国区总经理许欣出席了此次会议并表示：“GE在无损检测领域已经积累了多年的经验，通过长期对一系列国际知名品牌的并购，已成功打造成全系列无损检测产品的供应商。如果把GE的各种检测手段看作是一座“诊断医院”，我们希望提供给用户的不仅仅是先进的产品和技术，更多的是完整的解决方案，能与用户共同解决在检测应用方面的挑战。所以想通过此次会议，从实际应用的角度出发来和大家分享探讨在无损检测领域的心得和体会，为中国的无损检测行业做一点贡献。