迪贝（Diba）将在2010中国医疗器械博览会(CMEF)展示DP3探针镜面抛光技术
未抛光探针內往往会有微小凹槽，这种凹槽会积存残留液体，而这项独有的DP3技术可以减少这种凹槽，从而最大限度排除与潜在反应物质发生不良化学相互作用的可能性，以保证流体处理的顺畅性。使用DP3技术的探针的carryover可减少75%，增加吞吐量，同时保持必须的流体特征，以实现高效的系统性能。
高度抛光的探针可以节省周期时间，降低冲洗液体成本。 使用这项技术后，探针可以进行更为敏感的测试，并使用更多种类的化学试剂，这样，探针的测试适用范围就得到了很大的提高。由于DP3工艺可以使金属表面变得十分平滑，而不是添加会逐渐脱落的涂层（如特氟龙等），因此，探针更为经久耐用。
DP3适用于迪贝所有类型的吸/配、穿刺、液面传感，以及透气式试剂和液样转移探针。可以选择不锈钢或其它金属，按照器械制造商的技术规范进行量身定制。DP3能够应用于内径小至0.016英寸的平头或斜切探针。迪贝（Diba）的技术人员可以协助客户进行适用于所用用途的指定配置。
迪贝（Diba）同时提供全套的流体管路配件，包括用于漏斗式连接管件(ferrule,cone)、Gripper、S型和倒锥形管箍(barb)，确保扭矩适当的带“卡塔声”的Click-N-SealTR接头以及倒钩连接式、漏斗管件、精密管材以及用于装试剂和废弃物的定制瓶和瓶盖。
要详细了解使用DP3抛光技术后探针内部的变化，欢迎光临迪贝（Diba）在中国国际医疗器械博览会（CMEF）的展位。
业务联络：
郑 亮
中国区销售工程师
美国迪贝流体控制有限公司上海办事处
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